Test und Prüfung

Bei fortgesetztem Wafertest haften Aluminiumabrieb u. Ä. der Pads an den Nadelspitzen. Welche Behandlung wird dann regelmäßig durchgeführt?

  1. ADie Nadelspitzen mit einem Schleifblatt o. Ä. reinigen
  2. BDie Nadeln einölen
  3. CDie Nadeln verbiegen
Antwort und Erläuterung anzeigen

Antwort: A. Die Nadelspitzen mit einem Schleifblatt o. Ä. reinigen

Haften Aluminiumabrieb und Oxide an den Nadelspitzen, steigt der Kontaktwiderstand, es lässt sich nicht korrekt messen, und gute Chips werden fälschlich als defekt beurteilt. Daher werden die Nadelspitzen nach jeweils einer bestimmten Zahl gemessener Chips mit einem Schleifblatt o. Ä. abgerieben und gereinigt, um den Kontakt zu stabilisieren. Wird zu stark gerieben, nutzen sich die Nadeln ab und werden kürzer, weshalb auch die Reinigungshäufigkeit gesteuert wird. Öl und Biegen verschlechtern den Kontakt.

Dieses Thema üben Zur Themenseite

Weitere Fragen zu Test und Prüfung

  1. Was ist der Zweck, beim Prober die Temperatur des Chucks (der Auflage für den Wafer) auf hohe oder niedrige Temperatur regeln zu können?
  2. Welche Kombination der Bezeichnungen für den Test, der mit Scan o. Ä. strukturelle Fehler der Schaltung (Haftfehler usw.) umfassend erkennt, und den Test, der die Funktion wie im tatsächlichen Betrieb prüft, ist richtig?
  3. Wie heißt es, wenn die Testbeurteilung zu streng oder die Messung instabil ist und eigentlich gute Chips als defekt beurteilt und verworfen werden?
  4. Was ist der Hauptzweck, beim Speichertest eine Darstellung zu erstellen, die festhält, welches Bit welcher Adresse defekt war?
  5. Warum muss bei der Ausgangskompression des Scan-Tests eine Behandlung zum Entfernen von Signalen nötig sein, deren Wert (unbekannter Wert X) in der Simulation weder als 0 noch als 1 feststeht?