Test und Prüfung

Was ist bei der Entwicklung von Testprogrammen zur Senkung der Testkosten wichtig?

  1. AMesspunkte und Reihenfolge so zu optimieren, dass die Testzeit kurz ist, soweit Defekte ausreichend erkannt werden
  2. BAlle Punkte jeweils mit der maximalen Häufigkeit zu messen
  3. CTests für Punkte mit vielen Defekten wegzulassen
Antwort und Erläuterung anzeigen

Antwort: A. Messpunkte und Reihenfolge so zu optimieren, dass die Testzeit kurz ist, soweit Defekte ausreichend erkannt werden

Da die Testkosten etwa proportional zur Testzeit sind, werden die Messpunkte im Rahmen der Qualitätssicherung eingegrenzt und Reihenfolge und Bedingungen der Messung so gestaltet, dass die Testzeit kurz ist. Beispielsweise werden Punkte, die leicht zu Defekten führen, zuerst gemessen, um früh abzubrechen, oder Punkte, bei denen nach früheren Daten kaum Defekte auftreten, überprüft. Werden Punkte mit vielen Defekten weggelassen, steigen die Fehlentscheidungen, und eine Messung aller Punkte mit maximaler Häufigkeit lässt die Kosten steigen.

Dieses Thema üben Zur Themenseite

Weitere Fragen zu Test und Prüfung

  1. Auf welche Weise werden Informationen über im Wafertest als defekt beurteilte Chips heute üblicherweise im späteren Montageprozess verwendet?
  2. Was ist der Hauptgrund, Halbleiter für den Automobilbereich nicht nur bei Raumtemperatur, sondern auch bei hoher und niedriger Temperatur zu testen?
  3. Welches Testmuster für Speichertests durchläuft die Adressen der Reihe nach, wiederholt Schreiben und Lesen von 0 und 1 und erkennt auch Defekte wie Störungen zwischen benachbarten Zellen?
  4. Welche Aussage zu ATE (Automatic Test Equipment) ist richtig?
  5. Wie heißt es beim Wafertest, wenn die Nadel nach dem Berühren des Elektrodenpads noch ein Stück weiter angedrückt wird, um sicheren Kontakt zu erzielen?