Test und Prüfung

Wofür wird das in IEEE 1149.1 (JTAG) festgelegte Boundary Scan hauptsächlich verwendet?

  1. AZur Messung der Schichtdicke auf dem Wafer
  2. BZur Bewertung der Elektromigration von Leitbahnen
  3. CZum Test von Verbindungen zwischen Anschlüssen von auf einer Leiterplatte montierten LSIs ohne Aufsetzen von Sonden
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Antwort: C. Zum Test von Verbindungen zwischen Anschlüssen von auf einer Leiterplatte montierten LSIs ohne Aufsetzen von Sonden

Beim Boundary Scan sind hinter jedem Anschluss des LSI Scan-Zellen vorgesehen, die seriell verbunden sind und über vier Signale TDI, TDO, TCK und TMS (sowie Reset) von außen gesetzt und beobachtet werden können. Auch bei BGAs u. Ä., deren Anschlüsse sich nicht mit Sonden kontaktieren lassen, können Unterbrechungen und Kurzschlüsse der Lötverbindungen auf der Platine geprüft werden. Diese Anschlüsse werden außerdem breit für Debugging und das Programmieren von Flash-Speicher genutzt.

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