Zuverlässigkeit

Welche Kombination der Bezeichnungen für „Entladung, wenn eine aufgeladene Person einen IC-Anschluss berührt“ und „Entladung, wenn der IC selbst aufgeladen ist und ein Anschluss Metall berührt“ in den Prüfmodellen für die ESD-Festigkeit ist richtig?

  1. AHuman Body Model (HBM) und Charged Device Model (CDM)
  2. BTDDB und NBTI
  3. CHTOL und HAST
Antwort und Erläuterung anzeigen

Antwort: A. Human Body Model (HBM) und Charged Device Model (CDM)

Das Human Body Model (HBM) bildet die Entladung eines mit 100 pF Kapazität und 1,5 kΩ Widerstand aufgeladenen menschlichen Körpers nach, das Charged Device Model (CDM) den Fall, dass der bei Fertigung oder Transport aufgeladene IC selbst Metall berührt und sich entlädt. CDM ist eine sehr schnelle Entladung von etwa 1 ns oder weniger und wird betont, weil es die Hauptursache von Zerstörungen in automatisierten Prozessen ist, die kein Mensch berührt. TDDB und NBTI sind zeitabhängige Degradationen, HTOL und HAST beschleunigte Lebensdauertests.

Dieses Thema üben Zur Themenseite

Weitere Fragen zu Zuverlässigkeit

  1. Welches auf der Thermodynamik beruhende Modell beschreibt die Beschleunigung der Lebensdauer unter Einbeziehung mehrerer Belastungen wie Feuchte und Spannung zusätzlich zur Temperatur?
  2. Welches Modell beschreibt die Ermüdungslebensdauer von Lötverbindungen unter Temperaturwechsel durch den Zusammenhang von Temperaturhub (Verformungsgröße) und Zahl der Wiederholungen?
  3. Welche statistische Verteilung wird bei Lebensdauertests zur Elektromigration häufig zur Beschreibung der Verteilung der Ausfallzeiten vieler Leitungen verwendet?
  4. Wie heißt die zusammenfassende Annahme, welchen Bedingungen von Temperatur, Spannung und Betriebszeit ein Produkt (z. B. für Fahrzeuge) während seiner Lebensdauer ausgesetzt ist?
  5. Welcher Wert kommt der erwarteten Zahl der Ausfälle in einem Jahr (etwa 8.760 Stunden) am nächsten, wenn 10.000 Teile mit einer Ausfallrate von 100 FIT verwendet werden? (1 FIT = 1 Ausfall je 10⁹ Stunden)