レーザ故障注入とは
れーざこしょうちゅうにゅう
パッケージを開けたチップに、レーザの光を短いパルスで当てて、トランジスタやメモリのセルの近くに電流を生じさせ、狙った場所と時刻に誤動作を起こさせる故障注入攻撃。シリコンにあまり吸収されない1 µm付近の近赤外光を、薄くした基板の裏側から当てることが多く、狙う場所を細かく選べる。光を検知するセンサ、重要な計算の二重化、誤りを検知したら鍵を消す仕組みなどで対策する。
「レーザ故障注入」は、1分野の1問の練習問題に出てきます(ハードウェアセキュリティの最新動向など)。
この用語の分野: ハードウェアセキュリティの最新動向