Nederlands
Menu

Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

Welke regelkaart wordt gebruikt om het defectpercentage (aandeel defecte producten) te beheersen?

  1. AX̄-R-regelkaart
  2. Bp-regelkaart
  3. CSpreidingsdiagram
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. p-regelkaart

Een p-regelkaart is een regelkaart voor telbare gegevens waarin het defectpercentage per steekproef, zoals een lot, wordt uitgezet. Kenmerkend is dat de breedte van de regelgrenzen verandert als de steekproefomvang verandert. Er zijn ook de np-regelkaart, die het aantal defecte stuks rechtstreeks beheerst, en de c-regelkaart voor het aantal afwijkingen. Voor het beheersen van het gemiddelde en de spreiding van meetbare grootheden zoals laagdikte en afmetingen dient de X̄-R-regelkaart; een spreidingsdiagram toont correlatie.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

  1. Wat is het juiste doel van het per procesfase uitvoeren van defectinspectie en het uitsluitend extraheren van defecten die ten opzichte van het voorgaande proces nieuw zijn bijgekomen?
  2. Welk begrip geeft, uit de deeltjesgrootte en de indeling van de bedrading, de oppervlakte weer van het gebied waarin een deeltje dat daar valt een defect kan veroorzaken?
  3. Welke methode graaft door herhaaldelijk naar het waarom te vragen naar de werkelijke oorzaak van een probleem?
  4. Een wafer bevat 600 chips en de yield is 80 %. Hoeveel goede chips zijn er?
  5. Hoe groot is bij benadering de totale yield, het product van beide, wanneer de yield van het waferproces 95 % is en die van de wafertest 90 %?