Nederlands
Menu

Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

Hoe groot is bij benadering de totale yield, het product van beide, wanneer de yield van het waferproces 95 % is en die van de wafertest 90 %?

  1. ACirca 85,5 %
  2. BCirca 92,5 %
  3. CCirca 185 %
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. Circa 85,5 %

De totale yield van meerdere processen wordt verkregen door de yields met elkaar te vermenigvuldigen. 0,95 × 0,90 = 0,855, dus circa 85,5 %. Circa 92,5 % (gemiddelde) en circa 185 % (som) zijn fout. Zo is 0,98¹⁰ ≈ 82 % bij tien stappen van elk 98 %; hoe meer processtappen, hoe lager de totale yield, zodat het belangrijk is de yield van elke stap hoog te houden.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

  1. Hoe heet het systeem waarmee de productiegeschiedenis per product kan worden getraceerd, wat nodig is om bij een gevonden afwijking de mogelijk getroffen producten te identificeren?
  2. Welke methode verwijdert chips als defect die weliswaar binnen de specificatie vallen, maar waarvan de waarde sterk afwijkt van de verdeling van hetzelfde lot?
  3. Welk verschil tussen de regelgrenzen van een regelkaart en de specificatiegrenzen van een product is juist?
  4. Welke volgorde van de PDCA-cyclus die bij kwaliteitsbeheer en bedrijfsverbetering wordt gebruikt is juist?
  5. Welke opvatting, een van de zeven QC-hulpmiddelen, deelt gegevens in groepen in zoals per apparaat, per operator of per materiaal en vergelijkt ze om de oorzaak van verschillen te vinden?