Ein Defekt, der wegen Wechselwirkungen zwischen Design und Prozess wiederholt an bestimmten Mustern oder Stellen auftritt. Er wird von zufälligen Defekten durch Partikel unterschieden.
Japanische Bezeichnung: システマティック不良
Fachgebiet: Ausbeute und Qualitätskontrolle
APC (fortgeschrittene Prozessregelung) Ausbeute (Yield) FMEA (Fehlermöglichkeits- und Einflussanalyse) Killerdefekt (killer defect) Pareto-Diagramm Poisson-Ausbeutemodell (Poisson yield model) Prozessfähigkeitsindex (Cpk) Qualitätsregelkarte SPC (statistische Prozesslenkung, statistical process control) Ursache-Wirkungs-Diagramm (Ishikawa)