Diagramm, das Positionen wie Fehlerarten als Balken in absteigender Häufigkeit zeigt, dazu eine Linie für den kumulierten Anteil. Es zeigt, welche Positionen zuerst angegangen werden sollten.
Japanische Bezeichnung: パレート図
Fachgebiet: Ausbeute und Qualitätskontrolle
APC (fortgeschrittene Prozessregelung) Ausbeute (Yield) FMEA (Fehlermöglichkeits- und Einflussanalyse) Killerdefekt (killer defect) Poisson-Ausbeutemodell (Poisson yield model) Prozessfähigkeitsindex (Cpk) Qualitätsregelkarte SPC (statistische Prozesslenkung, statistical process control) Systematischer Defekt Ursache-Wirkungs-Diagramm (Ishikawa)