Zuverlässigkeit
Welche Methode bewertet die Anfälligkeit für Soft Errors durch Neutronen kosmischer Strahlung in kurzer Zeit, indem mit weit stärkeren Neutronen als in der realen Umgebung bestrahlt wird?
- ABeschleunigter Test mit Bestrahlung durch Neutronenstrahl aus einem Beschleuniger o. Ä.
- BDer Chip wird in ein Gefrierfach gelegt
- CDer Chip wird mit starkem Licht bestrahlt
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Antwort: A. Beschleunigter Test mit Bestrahlung durch Neutronenstrahl aus einem Beschleuniger o. Ä.
Die Neutronenmenge am Boden ist gering, und um in der realen Umgebung genügend viele Soft Errors zu beobachten, ist viel Zeit nötig. Daher wird in Beschleunigeranlagen mit einem Neutronenstrahl bestrahlt, der um ein Vielfaches von hundert Millionen stärker ist als am Boden, und aus der Zahl der in kurzer Zeit aufgetretenen Fehler die Soft-Error-Rate (FIT) in der realen Umgebung abgeschätzt. Da auch Alphastrahlung von geringen Mengen radioaktiver Elemente in Gehäuse und Lot eine Ursache ist, werden auch Materialien mit niedriger Alphastrahlung verwendet.