在類比電路設計中，隨機地反覆給予製造變異所造成的電晶體特性變化來進行模擬，以估算效能分布與良率的手法為下列何者？

正確答案：A. 蒙地卡羅模擬

蒙地卡羅模擬是依據PDK的變異模型，以亂數改變臨界電壓等參數，反覆進行數百次、數千次的電路模擬。可從偏移電壓或增益等的分布，估算滿足規格的比例（參數良率）。對於像SRAM單元這種數百萬個中連一個都不能失敗的電路，也會使用能有效估算罕見失敗的方法。

• A. 正確。這是以亂數給予變異並反覆進行的模擬。
• B. 邏輯合成是從RTL產生邏輯閘電路的製程。
• C. 切割是分割晶圓的製程。