規格書的閱讀方法
規格書記載 RDS(on) = 10 mΩ(Tj = 25 ℃、VGS = 10 V)的矽功率MOSFET,在 Tj = 125 ℃附近使用時,下列觀念何者正確?
- A半導體溫度上升時電阻會下降,因此以25 ℃的數值估算就會偏向安全側
- BRDS(on)在高溫時越大,因此要以溫度特性圖修正為高溫下的數值來估算損耗
- CRDS(on)幾乎不受溫度影響,因此可直接以表中數值計算導通損耗
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正確答案:B. RDS(on)在高溫時越大,因此要以溫度特性圖修正為高溫下的數值來估算損耗
矽功率MOSFET的RDS(on),在溫度上升時因載子遷移率下降而變大,一般在125 ℃時約為25 ℃時的1.5〜2倍。規格書中會刊載以25 ℃為1的正規化RDS(on)溫度特性圖。若以25 ℃的數值計算導通損耗 I²R,會低估損耗,而忽略發熱使電阻進一步上升的惡性循環。這個正溫度係數也有使並聯元件電流趨於均等的優點。