Nederlands
Menu

Testen en inspectie

Welke kwaliteitsmaat geeft het aantal defecten per miljoen geleverde producten aan?

  1. AFIT
  2. BCp
  3. CDPPM
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: C. DPPM

DPPM (Defective Parts Per Million) geeft het aantal defecte producten per miljoen geleverde producten aan. Bij halfgeleiders voor auto's wordt het zero-defect-denken geëist, met een DPPM van één cijfer of lager, en is het belangrijk om gemiste defecten in de test te beperken. FIT is een uitvalkans per tijdseenheid, uitgedrukt als het aantal uitvallen per miljard apparaaturen; Cp is een maat voor hoeveel van de procesvariatie binnen de specificatiebreedte past.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Testen en inspectie

  1. Wat is het belangrijkste doel van het testen bij de productie van halfgeleiderproducten?
  2. Op welke plek op de chip worden de naalden van de probe card bij de wafertest in contact gebracht?
  3. Wat is de basismethode om bij de test van logische schakelingen te beoordelen of een chip goed is?
  4. Hoe heet de combinatie van de reeks 0- en 1-signalen die achtereenvolgens aan de ingangen van de chip worden aangelegd en de bijbehorende verwachte waarden?
  5. Hoe heet het speciale patroon dat onder meer tussen de chips op de wafer (scribe lines) wordt geplaatst en waarmee eigenschappen van transistoren en weerstanden worden gemeten om het proces te beoordelen?