테스트와 검사
반도체 제품 제조에서 테스트를 하는 주된 목적은?
- A제조 중에 생긴 불량품을 찾아 제거하고, 규격을 만족하는 제품만 출하하기 위해
- B칩의 색을 확인하기 위해
- C칩의 무게를 재기 위해
정답과 해설 보기
정답: A. 제조 중에 생긴 불량품을 찾아 제거하고, 규격을 만족하는 제품만 출하하기 위해
아무리 관리해도 제조 공정에서는 일정 비율로 결함을 가진 칩이 생깁니다. 테스트로 전기적 특성과 기능을 조사하여 불량품을 제거함으로써, 규격을 만족하는 제품만 출하합니다. 불량은 나중에 발견될수록 손실이 크며, 시장에서 발견되면 회수 등의 큰 문제가 됩니다. 테스트 결과는 불량의 원인을 찾아 제조 공정을 개선하기 위한 데이터도 됩니다.
- A. 올바릅니다. 불량품을 제거하고 양품만 출하합니다.
- B. 색을 확인하는 것이 목적이 아닙니다.
- C. 무게를 재는 것이 목적이 아닙니다.