신뢰성

일렉트로마이그레이션(electromigration)에 대한 설명으로 올바른 것은?

  1. A습기로 인해 배선이 부식되는 현상
  2. B전류에 의해 배선의 금속 원자가 이동하여 보이드(void)나 힐록(hillock)이 생기는 현상
  3. C정전기 방전으로 소자가 파괴되는 현상
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정답: B. 전류에 의해 배선의 금속 원자가 이동하여 보이드(void)나 힐록(hillock)이 생기는 현상

일렉트로마이그레이션은 배선을 흐르는 전자가 금속 원자와 충돌하여 운동량을 전달함으로써 원자를 조금씩 전자의 흐름 방향으로 이동시키는 현상입니다. 원자가 빠져나간 곳에는 보이드가 생겨 단선되고, 쌓인 곳에는 힐록이 생겨 이웃한 배선과 단락됩니다. 수명은 블랙(Black)의 식에 따라 전류 밀도의 약 2제곱에 반비례하며, 온도가 높을수록 짧아집니다. 습기에 의한 부식이나 정전기에 의한 파괴는 다른 고장입니다.

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