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스캔 테스트를 위한 스캔 체인이 암호 처리를 하는 칩에서 공격 경로가 될 수 있는 이유와 그 대책의 조합으로 올바른 것은?
- A처리 도중에 테스트 모드로 바꾸면 키에 관련된 레지스터 값을 밖으로 읽어 낼 수 있는 경우가 있다. 모드 전환 시 비밀을 지우고, 출하 후에는 스캔을 비활성화하거나 인증을 요구한다
- B스캔 체인은 동작 중에 큰 전력을 쓰므로 소비 전력 파형이 흐트러져 전력 해석을 할 수 없게 된다. 그래서 스캔 체인은 가능한 한 길게 연결해 둔다
- C스캔 체인은 칩 안의 배선을 늘릴 뿐이며, 칩 안의 데이터를 밖으로 읽어 내는 데는 사용할 수 없다. 그래서 특별한 대책은 필요 없다
정답과 해설 보기
정답: A. 처리 도중에 테스트 모드로 바꾸면 키에 관련된 레지스터 값을 밖으로 읽어 낼 수 있는 경우가 있다. 모드 전환 시 비밀을 지우고, 출하 후에는 스캔을 비활성화하거나 인증을 요구한다
스캔 설계에서는 칩 안의 플립플롭을 연결하여 내부 상태를 밖에서 설정하거나 읽어 낼 수 있습니다. 암호 회로의 도중 상태를 스캔으로 읽어 낼 수 있으면, 입력을 바꾸면서 중간값을 비교함으로써 키를 추측할 수 있다는 것이 연구에서 제시되었습니다. 그래서 테스트 모드로 전환할 때 키 등의 레지스터를 리셋하거나, 키 레지스터를 체인에서 빼거나, 스캔 출력을 뒤섞거나, 출하 시 eFuse로 스캔을 비활성화하거나 인증을 통과한 경우에만 사용할 수 있게 하는 등의 대책을 조합합니다. 테스트의 용이성과 비밀 보호의 용이성은 대립하므로, 설계의 이른 단계에서 둘 다 고려합니다.