Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

Welke regelkaart zet het gemiddelde en het bereik (maximum − minimum) van steekproeven elk in de tijd uit, om veranderingen in het procesgemiddelde en veranderingen in de spreiding gelijktijdig te bewaken?

  1. AX̄-R-regelkaart
  2. Bp-regelkaart
  3. CParetodiagram
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. X̄-R-regelkaart

Bij de X̄-R-regelkaart worden per steekproef van een vast aantal (bijvoorbeeld 5) stuks het gemiddelde (X̄) en het bereik (R = maximum − minimum) bepaald en elk in een eigen regelkaart uitgezet. In de kaart van het gemiddelde wordt de verschuiving van het procesmidden bewaakt en in de kaart van het bereik de verandering van de spreiding, zodat ook een toename van de spreiding die met alleen het gemiddelde zou worden gemist, wordt opgemerkt. Bij grote steekproeven wordt de X̄-s-regelkaart gebruikt, die de standaardafwijking in plaats van het bereik gebruikt. De p-regelkaart beheerst het defectpercentage.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

  1. Welk systeem beheert in de fabriek onder meer welk lot zich in welk proces en op welke apparatuur bevindt en onder welke voorwaarden het is bewerkt, en stuurt en registreert de productiestroom?
  2. Bij een steekproefsgewijze inspectie wordt een deel van een groot aantal producten gecontroleerd en wordt beoordeeld of het hele lot wordt goedgekeurd of afgekeurd. Welke maat geeft het kwaliteitsniveau aan dat als aanvaardbaar wordt beschouwd?
  3. Welk voorbeeld toont bij het analyseren van yieldgegevens aan dat twee grootheden met elkaar kunnen correleren zonder dat de een de oorzaak van de ander is?
  4. Welke beschrijving van pogingen om de yield te verhogen door in de fabriek opgeslagen grote hoeveelheden apparatuurdata, meetdata en testresultaten met onder meer machine learning te analyseren is juist?
  5. Welk model wordt gebruikt als yieldmodel waarin wordt meegenomen dat defecten op de wafer ongelijk verdeeld en geclusterd optreden (clustering)?