전력 반도체
인버터에서 상하 스위치가 동시에 온 되는 등의 단락이 일어났을 때, 파워 디바이스가 파괴되지 않고 견딜 수 있는 시간을 나타내는 지표는 무엇입니까?
- AFIT
- BMTBF
- C단락 내량
정답과 해설 보기
정답: C. 단락 내량
단락 내량은 상하 암의 동시 온이나 부하 단락으로 대전류가 흘렀을 때 디바이스가 파손되지 않고 견딜 수 있는 시간으로, Si IGBT에서는 일반적으로 약 10 µs입니다. 보호 회로는 그 시간 안에 단락을 검출해 디바이스를 오프해야 하며, IGBT에서는 컬렉터 전압의 상승으로 검출하는 방식(DESAT)이 자주 사용됩니다. 칩이 작아 열용량이 작은 SiC MOSFET은 수 µs로 짧아지기 쉬워 더 빠른 보호가 필요합니다.